To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2445/32145

Precession electron diffraction in the transmission electron Microscope: electron crystallography and orientational mapping
Portillo i Serra, Joaquim
Universitat de Barcelona
2012-09-28
Microscòpia electrònica de transmissió
Anàlisi instrumental
Difracció d'electrons
Transmission electron microscopy
Instrumental analysis
Electrons diffraction
(c) Universitat de Barcelona, 2012
Book Part
Centres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelona
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Costa Comelles, Josep; Bosch i Serra, Àngela D.; Botargues, A.; Cabiscol, P.; Moreno, A.; Portillo, J.; Avilla Hernández, Jesús
Costa Comelles, Josep; Bosch i Serra, Àngela D.; Botargues, A.; Cabiscol, P.; Moreno, A.; Portillo, J.; Ris, N.; Santalinas, E.; Sarasua Saucedo, Ma. José; Avilla Hernández, Jesús
 

Coordination

 

Supporters