To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/11965

Statistical analysis of SRAM aarametric failure under supply voltage scaling
Vatajelu, Elena Ioana; Figueras Pàmies, Joan
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica
2012-05-11
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica i telecomunicacions
Electronic engineering
Enginyeria electrònica
Restricted access - publisher's policy
Conference Object
IEEE Computer Society Publications
         

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Vatajelu, Elena Ioana; Panagopoulos, Georgios; Roy, Kaushik; Figueras Pàmies, Joan
Rubio Sola, Jose Antonio; Figueras Pàmies, Joan; Vatajelu, Elena Ioana; Canal Corretger, Ramon
Vatajelu, Elena Ioana; Gómez Pau, Álvaro; Renovell, Michel; Figueras Pàmies, Joan
Vatajelu, Elena Ioana; Gómez Pau, Álvaro; Renovell, Michel; Figueras Pàmies, Joan
 

Coordination

 

Supporters