To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2117/11966

Title:	Parametric Failure Analysis of Embedded SRAMs using Fast & Accurate Dynamic Analysis
Author:	Vatajelu, Elena Ioana; Panagopoulos, Georgios; Roy, Kaushik; Figueras Pàmies, Joan
Other authors:	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica
Publication date:	2012-05-11
Subject(s):	Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica i telecomunicacions Electronic engineering Enginyeria electrònica -- Congressos
Rights:	Restricted access - publisher's policy
Document type:	Conference Object
Share:

Show full item record