To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2445/24815

Electrically active point defects in n-type 4H¿SiC
Doyle, J. P.; Linnarsson, M. K.; Pellegrino, P.; Keskitalo, N.; Svensson, B. G.; Schoner, A.; Nordell, N.; Lindstrom, J. L.
Universitat de Barcelona
2012-05-03
Estructura electrònica
Cristal·lografia
Electronic structure
Crystallography
(c) American Institute of Physics, 1998
Article
           

Show full item record

Related documents

Other documents of the same author

Pellegrino, Paolo; Leveque, P.; Hallen, A.; Lalita, J.; Jagadish, C.(Chennupati); Svensson, Bengt G.
Leveque, P.; Kortegaard Nielsen, H.; Pellegrino, P.; Hallen, A.; Svensson, Bengt G.; Kuznetsov, Andrej; Wong-Leung, J.; Jagadish, C. (Chennupati); Privitera, V.
Tinke, A. P.; Carnicer González, Arturo; Govoreanu, R.; Scheltjens, G.; Lauwerysen, L.; Mertens, N.; Vanhoutte, K.; Brewster, M. E.
Levy, S.; Sutton, G.; Ng, P.C.; Feuk, L.; Halpern, A.L.; Walenz, B.P.; Axelrod, N.; Huang, J.; Kirkness, E.F.; Denisov, G.; Lin, Y.; Macdonald, J.R.; Pang, A.W.; Shago, M.; Stockwell, T.B.; Tsiamouri, A.; Bafna, V.; Kravitz, S.A.; Busam, D.A.; Abril Ferrando, Josep Francesc, 1970-
Fontaine, B.; van Achterberg, K.; Alonso-Zarazaga, M.A.; Araujo, R.; Asche, M.; Aspöck, H.; Aspöck,U.; Audisio, P.; Aukema, B.; Bailly, N.; Balsamo, M.; Bank, R.A.; Belfiore, C.; Bogdanowicz, W.; Boxshall, G.; Burckhardt, D.; Chylarecki, P.; Deharveng, L.; Dubois, A.; Gómez López, María Soledad
 

Coordination

   

Supporters