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Proceso automático para la medida de las reflectancias. 1.-Descripción preliminar
Besteiro, J.; Vendrell Saz, Màrius; López Soler, Ángel; Bosch Figueroa, J. M.; Font-Altaba, M. (Manuel), 1922-2005
Universitat de Barcelona
Para el cálculo de las constantes fsicas n, k, a partir de las medidas de reflectancia en dos medios de índice de refracción conocido y diferente, se necesita emplear criterios estadísticos, lo que obliga a obtener gran cantidad de datos experimentales y por consiguiente el cálculo es muy laborioso. Se describe el método automàtico utilizado para la simplificación de estas operaciones que permiten realizar dichos cálculos en gran rapidez.
2011-07-26
Microscòpia
Refracció
Microscopy
Refraction
(c) Besteiro, et al., 1974
Article
Universitat de Barcelona (UB). Institut de Cincias de la Terra Jaume Almera (ICTJA)
         

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