|
Title:
|
Proceso automático para la medida de las reflectancias. 1.-Descripción preliminar
|
|
Author:
|
Besteiro, J.; Vendrell Saz, Màrius; López Soler, Ángel; Bosch Figueroa, J. M.; Font-Altaba, M. (Manuel), 1922-2005
|
|
Other authors:
|
Universitat de Barcelona |
|
Abstract:
|
Para el cálculo de las constantes fsicas n, k, a partir de las medidas de reflectancia en dos medios de índice de refracción conocido y diferente, se necesita emplear criterios estadísticos, lo que obliga a obtener gran cantidad de datos experimentales y por consiguiente el cálculo es muy laborioso. Se describe el método automàtico utilizado para la simplificación de estas operaciones que permiten realizar dichos cálculos en gran rapidez. |
|
Publication date:
|
2011-07-26 |
|
Subject(s):
|
Microscòpia Refracció Microscopy Refraction |
|
Rights:
|
(c) Besteiro, et al., 1974 |
|
Document type:
|
Article |
|
Share:
|
|