To access the full text documents, please follow this link: http://hdl.handle.net/2099.1/10416

Characterization of stratified media using high-resolution thin film measurement techniques
Aguerri Cavero, Alberto
Laguarta Bertran, Ferran
2011-02-15
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials
3D optical profiler
Numerical aperture
Thin film
Stratified media
Semiconductors de pel·lícula fina
Open Access
Research/Master Thesis
Universitat Politècnica de Catalunya
         

Show full item record

 

Coordination

 

Supporters